Caracterização estática de sistemas de medição (Apresentação)
Autor: Prof. Lélio R. Soares Júnior
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Descrição: Caracterização estática de sistemas de medição (Apresentação) por Prof. Lélio R. Soares Júnior. Este documento aborda as características estáticas de sistemas de medição, crucial para entender o comportamento de sensores e instrumentos. Essencial para quem busca precisão em medições e análise de sistemas.
Páginas: 15
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